华东师范大学通信与电子学院原位先进器件中心的硕士研究生陈新倩同学，在静电防护器件的可靠性研究方面取得重要进展。该工作以“Nanoscale Analysis of Breakdown Induced Crack Propagation in DTSCR Devices”为题被A类国际会议、可靠性领域顶级会议“IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)”接收。
华东师范大学通信与电子学院原位先进器件中心的硕士研究生陈新倩同学，在静电防护器件的可靠性研究方面取得重要进展。该工作以“Nanoscale Analysis of Breakdown Induced Crack Propagation in DTSCR Devices”为题被A类国际会议、可靠性领域顶级会议“IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)”接收。